《半导体器件间歇工作寿命试验设备》团体标准

　　《半导体器件间歇工作寿命试验设备》团体标准规定了半导体集成电路间歇工作寿命试验设备的术语和定义、基本参数、技术要求、试验方法、检验规则、标志、使用说明书、包装、运输和贮存。本文件适用于Si/SiC二极管、三极管、MOSFET/IGBT等器件的间歇工作寿命试验设备。

　　工作环境：

　　寿命试验设备工作环境应符合下列要求：a)环境温度：5℃～35℃；b)相对湿度：≤80%RH；c)大气压强：86kPa～106kPa；d)电网电压：AC220V±10%；e)电网频率：50Hz±8Hz；f)周围无强磁场干扰和有害气体侵蚀；g)周围无强烈振动，无其他热源直接辐射。

　　外观结构：

　　1.设备外壳不得有明显斑点、划痕、色斑等缺陷，应无危害安装、正常使用或维护的尖端或锐边。2.设备接插件插头绝缘应无任何破损，并接插稳固。3.设备开关及按键应灵活可靠，零部件装配应牢固，无卡涩、松动现象。4.试验通道应光滑平整、无变形、损失，箱门应开关灵活，闭合紧密。5.设备整体尺寸应符合设计图纸要求，尺寸偏差应为±5mm。6.说明性文字、符号、标志应清晰、耐久。

　　试验条件：

　　试验应在下列条件下进行：a)温度：15℃～35℃；b)湿度：(40～60)%RH；c)大气压：86kPa～106kPa；d)电源：标称交流电源；e)状态：正常工作状态。

　　型式试验：

　　有下列情况之一，应进行型式检验： a) 新产品或老产品转厂生产的试制定型鉴定时；b) 正式生产后，如结构、材料、工艺等有较大改变，可能影响产品性能时； c) 正常生产，每年应进行一次型式试验；d)产品长期停产1年后，恢复生产时； e) 出厂检验结果与上次型式检验有较大差异时。

　　型式检验样品应从出厂检验合格的产品中随机抽取2个样品。型式检验全部项目合格应判定型式检验合格，若有不合格项时，应对不合格项进行复检，复检合格应判定为合格，复检仍不合格，应判定型式检验不合格。